分析和控制杂散光、鬼像是光学成像系统设计中的一项十分重要并且复杂的任务

       鬼像是在主要光路中的光学表面中多次来回反射造成的

– 像面上或者靠近焦点处的鬼像需要特别关注

       杂散光可以由镜头座、镜头的非光学表面等多次反射形成，甚至由感光器件本身反射形成

– 由于感光器件微结构的衍射效应，模拟感光器件的反射很复杂

       下面我们突破OSG软件产品的界限，同时使用多种软件来模拟和分析杂散光

– 同时可以检验一下CODE V, RSoft 和LightTools的能力

图1：某手机镜头的鬼像

       初级成像光路中两个表面之间的反射像形成鬼像

– 包括从感光器件的表面

       反射光线重新进入成像光路

– 如果光线靠近焦点，那么形成的鬼像可以非常清晰

       CODE V可以高效分析鬼像

图2：鬼像示意图

       杂散光由非光学面产生的反射或者散射引起

– 以后可以简称“杂光”

      可能产生杂光的表面:

– 安装表面或光栏

– 镜头的边缘表面

– 镜头的倒角磨平面

– 感光器或者包围感光器的保护屏表面

图3：镜头座反射产生的杂光

视场外的杂光

       感光器件通常有矩形或者正方形的尺幅

       MAX视场角由感光器件从中心到边缘的幅度决定；

       镜头设计为满足所有方向的圆形的视场角

       感光器件尺度以外，镜头视场角以内的一个明亮物体可能会在感光器上形成一个比较大的杂光

图4：视场外的杂光

感光器微结构的反射

       感光器本身会反射一部分光线回镜头

       然后反射光可以再反射或者散射回到感光器上，形成杂光

       对于固体感光器件例如CMOS芯片，其微结构可以产生较大的衍射效应，这对杂光的分布模式会有较大的影响

图5：感光器微结构的反射

一种分析照相镜头杂光的典型工作流程：

图6：分析杂光的工作流程

未完待续